SN74BCT8374ANT
零件编号：
SN74BCT8374ANT
产品分类：
专用逻辑
制造商：
Texas Instruments
描述：
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
包装：
Tube
ROHS状态：
Yes
货币：
USD
规格
- 零件状态 Obsolete
- 安装类型 Through Hole
- 工作温度 0°C ~ 70°C
- 封装 / 外壳 24-DIP (0.300", 7.62mm)
- 供应商器件封装 24-PDIP
- 位数 8
- 电源电压 4.5V ~ 5.5V
- 逻辑类型 Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops